x-ray无损伤检测又称无损伤检测，是指在不损伤被检测的情况下，利用材料内部结构异常或缺陷引起的热、声、光、电、磁等物理量的变化，检测各种工程材料、零件、结构件等内部和表面缺陷。
*常用的无损检测方法有射线照相检测、超声波检测、涡流检测、磁粉检测、渗透检测、视觉检测、泄漏检测、声音发射检测、射线透i视检测等。
半导体工业中x-ray的应用。
目前常用的晶片检测方法是将晶片层层剥开，再用电子显微镜拍摄每一层表面，这种检测方式对晶片有很大破坏，此时，x- ray筛选公司，x射线无损检测技术或许能助一臂之力。电子器件x射线检测仪主要是利用x射线照射芯片内部，由于x射线的穿透力非常强，能够穿透芯片后成像，x- ray筛选，其内部结构的断裂情况可以清楚地显示出来，用x射线对芯片进行检测的*主要特点是对芯片本身没有损伤，因此这种检测方式也叫无损探伤。
x-ray检测技术
1.用于检测陶瓷铸件的气泡、裂纹等。
2.检查ic包装是否有缺陷，如有剥皮、是否破i裂、是否有间隙等。
3.印刷业的应用主要体现在纸板生产过程中的缺陷、桥梁和断路。
4.在smt中，主要是检测焊点之间的间隙。
5.在集成电路中，x- ray筛选机构，主要是检测各种连接线中的断路、短路或不正常连接。
x射线(x-xray)检测仪是利用低能x的光，在不损坏被检物品的情况下，快速检测被检物。
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