失效分析-苏州天标检测技术-金属失效分析

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    2024-3-11

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高分子材料失效分析

众所周知,即使在*大载荷低于高分子材料的屈服强度下长期使用,高分子材料报名将会出现微观裂纹,并逐渐扩展到临界尺寸。与此同时,高分子材料的强度逐渐下降,失效分析,低载荷亦能是使高分子材料断裂,即构件失效。这种微观断裂纹可能是化学老化或高分子材料本身的缺陷造成,而且载荷的长期作用引起高分子材料疲劳,称为物理老化。





电子元器失效分析:服务对象元器件生产商:---介入产品设计、生产、---性试验、售后等阶段,材料失效分析,为客户提供改进产品设计和工艺的理论依据。

组装厂:划分责任,金属失效分析,提供索赔依据;改进生产工艺;筛选元器件供应商;提高测试技术;改进电路设计。

器件:区分品质责任,提供索赔依据。

整机用户:提供改进操作环境和操作规程的依据,提高产品---性,树立企业品牌形象,提高产品竞争力。

分析过的元器件种类:

集成电路、场效应管、二极管、发光二极管、三极管、晶闸管、电阻、电容、电感、继电器、连接器、光耦、晶振等各种有源/无源器件。





电子元器件失效分析

失效定位技术:

显微红外热像技术(---和温度绘图)

液晶---检测技术

光发射显微分析技术(emmi)

表面元素分析:

扫描电镜及能谱分析(sem/eds)

俄歇电子能谱分析(aes)

x射线光电子能谱分析(xps)

二次离子质谱分析(sims)

产生效益提供电子元器件设计和工艺改进的依据,指引产品---性工作方向;

查明电子元器件失效---原因,有效提出并实施---性改进措施;

提高成品产品成品率及使用---性,提升企业核i心竞争力;

明确引起产品失效的责任方,为司i法仲裁提供依据。





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